| 보유기관명 |
한국과학기술연구원 |
| 보유기관코드 |
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| 활용범위 |
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| 활용상태 |
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| 표준코드 |
A206 |
| 표준분류명 |
시험 |
| 시설장비 설명 |
전자빔을 이용한 고분해능 영상관찰과 화학성분 분석 - 나노재료의 미세구조 관찰: 영상분해능 1.0 nm (고분해능 표면형상 관찰) - 나노 영역의 화학분석: 성분분석기 장착을 통한 화학성분 분석 가능 - 나노 분말의 분포 관찰: 초 저 전압 영상관찰로서 표면 분산 나노분말 관찰 - 나노촉매의 관찰: 코팅 없이 초 전압 저 진공 관찰로서 촉매 분말 관찰 - 나노 촉매의 반응 관찰: 저 진공조건에서 가스 반응성 관찰 |
| 장비이미지코드 |
http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201712/20160921102111_200702074091 NFEC-2005-11-044755.jpg |
| 장비위치주소 |
한국과학기술연구원 연구동(L5) |
| NFEC 등록번호 |
NFEC-2005-11-044755 |
| 예약방법 |
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| 카타로그 URL |
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| 메뉴얼 URL |
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| 원문 URL |
http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-KIST AAC-00011 |
| 첨부파일 |
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