기업조회

본문 바로가기 주메뉴 바로가기

특허/실용신안

광상 부존 잠재성 분석을 위한 지화학 자료 처리 방법 및 시스템

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 한국지질자원연구원
출원번호 10-2012-0073982
출원일자 2012-07-06
공개번호 20130906
공개일자 2013-09-05
등록번호 10-1303893-0000
등록일자 2013-08-29
권리구분 KPTN
초록 본 발명에 따른 광상 부존 잠재성 분석을 위한 지화학 자료 처리 방법은 지화학 자료를 광상과 관련성이 있는 유관 그룹과 관련성이 없는 무관 그룹으로 분류하는 지화학 자료 분류 단계; 상기 유관 그룹과 무관 그룹에 포함될 지화학 자료를 추가로 추출하여 상기 유관 그룹과 무관 그룹에 포함된 지화학 자료의 분포 그래프를 작성하는 분포 그래프 작성 단계; 상기 분포 그래프의 우도비를 계산하여 상기 유관 그룹과 무관 그룹을 대표하는 지화학 자료의 기준값을 설정하는 기준값 설정 단계; 상기 기준값을 이용하여 상기 유관 그룹과 무관 그룹에 각각 포함된 지화학 자료를 상기 광상과의 관련성 유무에 따라 유관 지화학 자료와 무관 지화학 자료로 재분류하는 지화학 자료 재분류 단계; 및 상기 유관 지화학 자료와 무관 지화학 자료의 거리비를 계산하여 입력 지화학 자료를 생성하는 입력 지화학 자료 생성 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020120073982
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE
주제어 (키워드)