이상 광도전성(EOC) 효과에 기반한 고해상도 광자 검출 방법 및 장치
기관명 | NDSL |
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출원인 | 워싱톤 유니버시티 |
출원번호 | 10-2012-7020369 |
출원일자 | 2012-08-02 |
공개번호 | 20121116 |
공개일자 | 0000-00-00 |
등록번호 | |
등록일자 | 0000-00-00 |
권리구분 | KUPA |
초록 | 본 발명자들은 반도체/금속 계면을 갖는 금속-반도체 하이브리드(MSH) 구조체에서 이상 광도전성(EOC) 현상 및 바람직하게 역 EOC(I-EOC) 현상에 기반하여 실온에서 기능하며, 바람직하게 나노스케일 치수를 갖는 고성능 광학 센서를 개시한다.이러한 디자인은 베어(bear) 반도체에서 나타나지 않은 효과적인 광자 센싱을 보여준다.예시적인 실시예를 이용한 실험에서, 헬륨-네온 레이저 방사를 이용한 초고 공간 해상도 4-포인트 광도전성 측정치는 현저하게 큰 광도전성 특성을 보이고 있으며, 250 nm 소자의 경우 관측된 최대 계측치는 9460% EOC이다.이러한 예시적인 EOC 소자는 또한 632 nm 조명에 대해 5.06x1011 cm√Hz/W 보다 높은 구체적인 검출도를 보이며 또한 광범위한 실제 응용에 맞는 기술적으로 경쟁적인 센서를 제조하는 40 dB의 높은 다이나믹 반응을 보여준다. |
원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020127020369 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
IPC분류체계CODE | |
주제어 (키워드) |